山形大学工学部技術部 機器分析技術室

        物理分野:(技術長)松葉 滋、水野善幸、石神 明、関根智仁、佐藤 翼,佐竹忠昭
        化学分野:(技術長)佐藤和昭、佐々木貴史、藤原 渉、水沼里美、高橋武義


 当技術室は学内の教育研究のために分析技術を提供する組織ですが、時間の許す限り、地域企業の皆様のお役に立ちたいと考えております。是非ご利用ください。



学外に提供できる分析技術 (詳細は各機器をクリック)













 

 






質量分析 (EI-FAB,ESI,APCI) 質量分析
核磁気共鳴吸収分析 (NMR) 分子運動ならびに原子核間の距離や角度の情報
赤外分光分析 (FT-IR) 分子の官能基や表面分析など
有機元素分析 (CHNS/O) C,H,N,S ,Oの微量分析
誘導結合プラズマ質量分析 (ICP-MS)
誘導結合プラズマ発光分析(ICP-AES)
微量元素分析
原子吸光 (AAs) 微量元素分析
蛍光X線分析 (XRF) 定性定量分析(Na〜U)
X線光電子分光分析 (XPS(ESCA)) 定性定量分析、化学結合状態分析、深さ方向分析
X線マイクロアナライザー (SEM-EDS) 微小部分の元素分析、定量分析、マップ分析
X線回折 (XRD) 試料の結晶化度や格子間距離の測定
走査型電子顕微鏡 (SEM) 試料表面の観察
透過型電子顕微鏡 (TEM) 試料の内部構造解析
集束イオンビーム (FIB) 試料の内部構造解析
イオンミリング(TEM薄膜作製) 試料の内部構造解析
光学顕微鏡 (OM) 試料の光学的観察

各分析機器の連絡先

分析手数料[ 学外の方 学内の方(学内限定)


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